Подведены итоги конкурса «Практикум СЗМ»

   Компания НТ-МДТ с удовольствием объявляет победителей.

   Лучшими работами в номинациях стали:

   Номинация: Методическая работа по дисциплинам, связанным с приобретением навыков работы с СЗМ. Название: «СЗМ в научно-исследовательских работах школьников». Авторы: Матятина А.Н. и Елютин С.О. (ГОУ Лицей №1511 при МИФИ)

   Номинация: Лабораторная работа с применением СЗМ, предназначенная для выполнения студентами ВУЗов. Название: «Сканирующая зондовая атомно-силовая микроскопия для изучения рельефа поверхности». Авторы: Лужков А.А. и Хинич И.И. (РГПУ им. А.И. Герцена)

   Номинация: Лабораторная работа с применением СЗМ, предназначенная для выполнения школьниками старших классов. Название: «Изучение особенностей роста тонких пленок кристаллов квасцов и медного купороса с помощью СЗМ». Автор: Просекина И.Г. (ИГУ, физический факультет, Лицей №2, г. Иркутск)

   Все победители в номинациях получают дипломы и призы.

   Жюри также отметило лучшие специализированные работы конкурса. Почетные места распределились следующим образом:

3 место
   занимает коллектив авторов: Агеев О.А., Гусев Е.Ю., Федотов А.А., Коломийцев А.С., Смирнов В.А. и Сербу Н.И. (Технологический институт ЮФУ, г. Таганрог) за работу «Исследование наноразмерных объектов на подложках с различной шероховатостью методами атомно-силовой микроскопии».

2 место
   присуждается Круглову А.В. (Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского) за работу «Атомно-силовая микроскопия нано- и микрокристаллических металлов и сплавов».

1 место
   заслуженно получает автор работы «Исследование фоточувствительных наноструктурированных слоев на основе PbSe методом отображения сопротивления растекания и спектроскопии тока» Спивак Ю.М. (Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет им.В.И.Ульянова (Ленина))

   Кроме того, Почетными дипломами и ценными призами награждаются авторы девяти работ:

   Филимонов В.Е., Сушенцов Н.И. «Определение глубины нарушенного слоя полупроводниковой подложки и его влияния на шероховатость поверхности с использованием метода сканирующей зондовой микроскопии»

   Осипова Н.А., Дуб Е. «Определение микротвердости твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в полуконтактном режиме»

   Браташов Д.Н., Климова С.А. «Определение зонной структуры полупроводников методами сканирующей туннельной спектроскопии»

   Пермяков Н.В., Соколова Е.Н. «Исследование морфологии пористого оксида алюминия при вариации технологических условий получения»

   Агеев О.А., Смирнов В.А., Сербу Н.И. «Исследование кутикул волос человека на зондовой НаноЛаборатории ИНТЕГРА»

   Огнев А.В., Самардак А.С. «Исследование особенностей нанесения резиста для электронной нанолитографии c помощью СЗМ ИНТЕГРА Аура»

   Просекин М.Ю., Арабчук В.Ф., Цивелева Д.М., Широков В.В. «Изучение рельефа поверхности металлических покрытий, полученных на металлах при осаждении из растворов и электролизом, с помощью СЗМ»

   Бобова О.А. «Нанотехнологии. Основы сканирующей зондовой микроскопии» в рамках элективного курса в 10 классе»

   Гридина И.С. «Возможности интеграции лабораторного практикума на СЗМ NANOEDUKATOR с программным материалом физики в 9–11 классах»